ARCHIVIO ALTOPARLANTI
Scopo dell'archivio e i metodi impiegati per realizzarlo
Vai al download Vai ai tutorial Ogni appassionato di autocostruzione sa benissimo quanto sia complessa e delicata la realizzazione di un sistema di altoparlanti. Stabiliti i requisiti di progetto, una delle fasi più critiche riguarda certamente la scelta degli altoparlanti. Il problemi principali che si possono incontrare sono questi: - specifiche tecniche poco affidabili o non aggiornate che non consentano una corretta valutazione dei prodotti, delle loro prestazioni e dei modi d'uso. Fortunatamente, per quanto riguarda i costruttori più seri, questo è un problema non troppo frequente. Tuttavia, per vari motivi imputabili, probabilmente, a variazioni nelle strategie produttive (nuovi materiali o metodi costruttivi), ci si può imbattere in altoparlanti che, all'atto pratico, esibiscono prestazioni molto distanti da ciò che ci si potrebbe aspettare esaminando i soli data-sheet dei costruttori; - quasi totale assenza di misurazioni elettroacustiche utilizzabili coi moderni CAD per la simulazione dei sistemi di altoparlanti. L'autocostruttore è privo di uno strumento molto utile per poter eseguire una verifica preliminare del progetto, valutare la bontà delle proprie scelte e proseguire, con qualche dubbio in meno, alla successiva relizzazione pratica. Con il nostro archivio di altoparlanti intendiamo cercare di superare questi ostacoli, creando un data-base al quale ogni appassionato può attingere per avvicinarsi alla progettazione dei sistemi di altoparlanti con un approccio meno nebuloso e più razionale. Progettazione dei sistemi di altoparlanti. Sviluppare e valutare con attenzione il proprio progetto, sfruttando intelligentemente la fase di simulazione, aiuta a scegliere con una certa sicurezza i materiali più idonei, prima di aprire il portafoglio. Noi crediamo che ne valga la pena. Naturalmente, siamo consapevoli che lo stesso modello di altoparlante misurato oggi, potrebbe presentare caratteristiche diverse a distanza di tempo, a causa di variazioni apportate dal costruttore (materiali o metodi costruttivi) non segnalate tempestivamente agli utenti finali. Per questo motivo, nei limiti del possibile, cercheremo di mantenere aggiornate anche le misure più datate. In ogni caso, gli altoparlanti che trovate nella sezione "Test" vengono misurati secondo un criterio predefinito, sempre uguale, che permette di eseguire comparazioni attendibili fra tutti i modelli che testiamo e che consente alle nostre misure di essere facilmente elaborate al CAD. L'utilizzo dei file per le simulazioni è completamente libero, ma non a scopo professionale o commerciale, se non espressamente autorizzato. Vi preghiamo solamente di segnalare questo sito, "www.dibirama.altervista.org", (dove possibile inserendo un link) come fonte originale del materiale prelevato. STRUMENTAZIONE IMPIEGATA
METODO DI MISURA L'ambiente di misura è una sala di circa 40 m3 con leggero trattamento fonoassorbente alle pareti. Le rilevazioni vengono eseguite almeno su due esemplari (a volte anche su quattro o più campioni, in base alla disponibilità). Rilevazione dei parametri di T&S La rilevazione sugli altoparlanti viene eseguita prevalentemente con il metodo della massa aggiunta, e talvolta (per gli altoparlanti di piccolo diametro) confrontata con i parametri estrapolati dalle misurazioni di impedenza in aria libera e risposta in frequenza in campo vicino. Più raramente viene usato il metodo del volume-delta. Anche se questi classici metodi di misura sono stati soppiantati da tecniche ben più sofisticate (apparecchiature Klippel, per esempio), largamente impiegate dai costruttori di altoparlanti, esse consentono all'autocostruttore di eseguire rilevazioni ragionevolmente attendibili con strumenti di base (generatore sinusoidale, voltmetro, ecc.), almeno fino a quando si rimane nel campo dei piccoli segnali.
Rilevazione delle risposte acustiche
* E' importate ricordare che la maggior parte dei software, come il noto AfW (Audio for Windows), richiedono delle misure di risposta in frequenza rilevate in semispazio, non facili da ottenere con i normali mezzi a disposizione dell'autocostruttore. La condizione di semispazio può essere approssimata abbastanza bene usando un panello di dimensioni standard come quello che impieghiamo usualmente, adottando qualche accorgimento "strategico" per aumentare l'accuratezza delle rilevazioni. Il pannello IEC, infatti, serve per "simulare" le condizioni di semispazio, ma le rilevazioni di risposta in frequenza a 1 m e talvolta anche a distanze inferiori mostrano comunque delle irregolarità dovute alle dimensioni fisiche del pannello stesso. Avvicinando il microfono all'altoparlante è possibile migliorare molto la situazione, ma è sempre necessario verificare che le alte frequenze non vengano attenuate a causa dell'eccessiva vicinanza del microfono. Questo fenomeno, ben conosciuto anche da chi si occupa di misure sulle cuffie, è chiaramente visibile nelle rilevazioni eseguite a diverse distanza nel tweeter a nastro FOUNTEK NeoCD2.0. Nel grafico di risposta a 2-5-10-25-50 cm è evidente come sia necessario porsi ad almeno 25 cm (curva gialla e blu sovrapposte) dal piano di montaggio per non risentire di cancellazioni dovute alla distanza del microfono dalla membrana dell'altoparlante. In questo caso, il forte sviluppo verticale del diaframma vibrante accentua notevolmente il fenomeno. In un altoparlante a cono da 3" l'effetto di attenuazione delle alte frequenze sarebbe molto più modesto. ** La tensione efficace di 2.83 V, che corrisponde a 1 W su 8 Ohm, è scelta in modo convenzionale per ricavare la sensibilità degli altoparlanti sotto test. Nella progettazione del cross-over, il dato di cui tener conto è la sensibilità, non l'efficienza. Per maggiori informazioni consultare anche "Sensibilità ed efficienza". *** La normale prassi sconsiglia di eseguire misure a distanze inferiori a 4 volte il diametro equivalente della sorgente, ma nella misura dei singoli altoparlanti spesso è possibile adottare distanze inferiori. Tuttavia è necessario verificare bene che questa rilevazione non comporti alterazioni (soprattutto in alta frequenza) rispetto a quelle eseguite a 0.5 m. Eventualmente, viene eseguita anche una misura direttamente alla distanza di 1 m per controllare ulteriormente la precisione delle rilevazioni. In ogni caso, le rilevazioni vengono eseguite a varie distanze in modo da minimizzare le inevitabili incertezze di misura.
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